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  • 安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀
    安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀

    安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快,能對(duì)不同入射角的橢偏測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合,可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。

    更新日期:2024-01-27型號(hào):訪問(wèn)量:1606
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  • 安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀
    安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀

    安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍,從190 nm(深紫外)到3500 nm(近紅外)。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達(dá)200μm的厚膜。

    更新日期:2024-01-27型號(hào):訪問(wèn)量:1716
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  • Bruker布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀
    Bruker布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀

    布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無(wú)論是固體還是液體樣品,在工業(yè)環(huán)境中都能快速,符合人體工程學(xué)的安全處理樣品。

    更新日期:2024-01-27型號(hào):Bruker訪問(wèn)量:2619
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  • ContourSP布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡
    ContourSP布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡

    布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡ContourSP大面板計(jì)量系統(tǒng)擁有十多年的包裝計(jì)量專(zhuān)業(yè)知識(shí),是上一代SP型號(hào)的高密度互連PCB(HDI-PCB)基板的測(cè)量吞吐量的兩倍以上。ContourSP專(zhuān)為在制造過(guò)程中測(cè)量PCB板的每一層而設(shè)計(jì),并具有許多*功能,可為半導(dǎo)體封裝行業(yè)提供高的生產(chǎn)性能,便利性,可靠性和吞吐量。

    更新日期:2024-01-26型號(hào):ContourSP訪問(wèn)量:1591
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  • Contour Elite X布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡
    Contour Elite X布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡

    布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡大樣本的Contour Elite X 3D光學(xué)輪廓儀將的測(cè)量功能與業(yè)界大視野和高保真彩色或單色成像上的垂直分辨率結(jié)合在一起。沒(méi)有其他度量衡系統(tǒng)可以提供非接觸式精度,吞吐量,操作員便利性和成像功能來(lái)解決如此廣泛的生產(chǎn)度量衡應(yīng)用。

    更新日期:2024-01-26型號(hào):Contour Elite X訪問(wèn)量:1565
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  • Contour Elite K布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡
    Contour Elite K布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡

    布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計(jì)量性能的設(shè)計(jì)和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D測(cè)量功能,高保真成像,以及業(yè)界的用戶(hù)友好界面,可在緊湊的系統(tǒng)中提供毫不妥協(xié)的計(jì)量和高保真成像。

    更新日期:2024-01-26型號(hào):Contour Elite K訪問(wèn)量:1974
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  • InSight CAP布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡
    InSight CAP布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡

    布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡在*技術(shù)節(jié)點(diǎn)上,利用多圖案光刻技術(shù)對(duì)CMP提出了納米工藝控制要求,以滿(mǎn)足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞新一代的AFM掃描儀構(gòu)建,可在65μmX / Y掃描范圍內(nèi)提供小于10納米的改進(jìn)平面度。

    更新日期:2024-01-26型號(hào):InSight CAP訪問(wèn)量:1791
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  • Edge PSS布魯克Dimension Edge PSS原子力顯微鏡
    Edge PSS布魯克Dimension Edge PSS原子力顯微鏡

    布魯克Dimension Edge PSS原子力顯微鏡具有AutoMET™計(jì)量軟件的布魯克Dimension Edge™PSS原子力顯微鏡是LED基板和外延制造商的理想納米計(jì)量和納米檢查系統(tǒng)。作為Dimension Edge AFM平臺(tái)的擴(kuò)展,Edge PSS融合了Dimension AFM系統(tǒng)所享有的令人難以置信的價(jià)值和分辨率,同時(shí)還提供了產(chǎn)品

    更新日期:2024-01-26型號(hào):Edge PSS訪問(wèn)量:1699
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